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共模瞬態(tài)抗擾度（CMTI）用于衡量數(shù)字隔離器抑制高速共模瞬變的性能，常用單位為 kV/μs。在隔離電路應(yīng)用場(chǎng)景中，共模瞬變極易引發(fā)數(shù)據(jù)損壞，做好 CMTI 測(cè)試可有效保障信號(hào)傳輸穩(wěn)定。
靜電放電是普遍存在的自然現(xiàn)象。ESD 114E依據(jù)人體模型 (HBM) 與機(jī)械模型 (MM) 靜電放電抗擾度試驗(yàn)的規(guī)范特點(diǎn)及技術(shù)要求專項(xiàng)研發(fā)，整機(jī)劃分為 HBM 靜電測(cè)試平臺(tái)、MM 靜電測(cè)試平臺(tái)兩大測(cè)試單元，專門面向 LED、晶體管、IC 芯片等各類半導(dǎo)體元器件開展靜電抗擾測(cè)試。 設(shè)備性能符合 ANSI-STM5.1-2001、JESD22-A114D-2005、AEC-Q100-002D-2003、JEDEC JESD 22-A114E、IEC61000-4-2 等多項(xiàng)國內(nèi)外行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
靜電放電是普遍存在的自然現(xiàn)象，ESD 8K 是針對(duì)人體模型(HBM)和機(jī)械模型(MM)的靜 電放電抗擾度試驗(yàn)的特點(diǎn)和要求而專門設(shè)計(jì)，分HBM 靜電測(cè)試平臺(tái)和MM 靜電測(cè)試平臺(tái)。 適用于如 LED、晶體管、IC 等半導(dǎo)體器件的測(cè)試。產(chǎn)品滿足 ANSI-STM5.1-2001、 JESD22-A114D -2005、AEC-Q100-002D -2003 等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求。
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