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EMC測(cè)試儀是可進(jìn)行靜電放電抗擾度、電快速瞬變脈沖群抗擾度及浪涌（沖擊）抗擾度三項(xiàng)試驗(yàn)的多功能組合抗擾度測(cè)試設(shè)備，三項(xiàng)試驗(yàn)功能可自由組合。產(chǎn)品滿(mǎn)足IEC61000-4-2、IEC61000-4-4、IEC61000-4-5和GB/T17626.2、GB/T17626.4、GB/T17626.5等新標(biāo)準(zhǔn)要求。 EMC S03-W包含靜電放電抗擾度、電快速瞬變脈沖群抗擾度及浪涌（沖擊）抗擾度三項(xiàng)試驗(yàn)。 EMC S02-W包含電快速瞬變脈沖群抗擾度和浪涌（沖擊）抗擾度兩項(xiàng)項(xiàng)試驗(yàn)。 EMC S02-E包含靜電放電抗擾度和浪涌（沖擊）抗擾度兩項(xiàng)試驗(yàn)。 EMC S02-F包含靜電放電抗擾度和電快速瞬變脈沖群抗擾度兩項(xiàng)試驗(yàn)。 產(chǎn)品采用內(nèi)置全自動(dòng)耦合/去耦網(wǎng)路，全觸屏操作界面，性能可與進(jìn)口品牌媲美。
靜電放電發(fā)生器又稱(chēng)靜電放電測(cè)試儀、靜電放電槍、靜電放電干擾測(cè)試儀等等; 靜電放電是普遍存在的自然現(xiàn)象（當(dāng)帶電的物體靠近或接觸一個(gè)導(dǎo)體時(shí)，電荷就要發(fā)生轉(zhuǎn)移，這就是靜電放電），靜電放電對(duì)電氣和電子設(shè)備、裝置或系統(tǒng)的影響無(wú)處不在，是一種危害程度極高的電磁能量。只有提高電子產(chǎn)品抗靜電能力水平才能保證電子的安全使用。我司自主研發(fā)的靜電放電發(fā)生器用于評(píng)估電氣和電子設(shè)備、裝置或系統(tǒng)遭受靜電放電時(shí)的性能。產(chǎn)品滿(mǎn)足IEC61000-4-2和GB/T17626.2等新標(biāo)準(zhǔn)要求。
靜電放電發(fā)生器又稱(chēng)靜電放電測(cè)試儀、靜電放電槍、靜電放電干擾測(cè)試儀等等; 靜電放電是普遍存在的自然現(xiàn)象（當(dāng)帶電的物體靠近或接觸一個(gè)導(dǎo)體時(shí)，電荷就要發(fā)生轉(zhuǎn)移，這就是靜電放電），靜電放電對(duì)電氣和電子設(shè)備、裝置或系統(tǒng)的影響無(wú)處不在，是一種危害程度極高的電磁能量。只有提高電子產(chǎn)品抗靜電能力水平才能保證電子的安全使用。我司自主研發(fā)的靜電放電發(fā)生器用于評(píng)估電氣和電子設(shè)備、裝置或系統(tǒng)遭受靜電放電時(shí)的性能。產(chǎn)品滿(mǎn)足IEC61000-4-2和GB/T17626.2等新標(biāo)準(zhǔn)要求。
雷擊浪涌測(cè)試儀又稱(chēng)雷擊浪涌發(fā)生器、組合波發(fā)生器等等； 自然界的雷擊（間接雷）以及供電線(xiàn)路中因大型開(kāi)關(guān)切換所引起的電壓變化對(duì)供電線(xiàn)路和通信線(xiàn)路的影響，其能量特別大，對(duì)產(chǎn)品的影響可能是破壞性的。雷擊浪涌測(cè)試儀用于評(píng)估設(shè)備在遭受來(lái)自電源線(xiàn)端口和其他信號(hào)線(xiàn)端口上高能量騷擾時(shí)的性能。產(chǎn)品完全滿(mǎn)足IEC61000-4-5和GB/T17626.5等新標(biāo)準(zhǔn)要求。
雷擊浪涌發(fā)生器又稱(chēng)雷擊浪涌測(cè)試儀、組合波發(fā)生器等等； 自然界的雷擊（間接雷）以及供電線(xiàn)路中因大型開(kāi)關(guān)切換所引起的電壓變化對(duì)供電線(xiàn)路和通信線(xiàn)路的影響，其能量特別大，對(duì)產(chǎn)品的影響可能是破壞性的。雷擊浪涌發(fā)生器用于評(píng)估設(shè)備在遭受來(lái)自電源線(xiàn)端口和其他信號(hào)線(xiàn)端口上高能量騷擾時(shí)的性能。產(chǎn)品滿(mǎn)足IEC61000-4-5和GB/T17626.5等新標(biāo)準(zhǔn)要求。
脈沖群發(fā)生器又稱(chēng)快速瞬變脈沖群發(fā)生器等等；電路中，諸如來(lái)自切換瞬態(tài)過(guò)程（切斷感性負(fù)載、繼電器觸點(diǎn)彈掉等），通常會(huì)對(duì)同一電路中的其他電氣和電子設(shè)備產(chǎn)生干擾。這類(lèi)干擾的特點(diǎn)是：高幅值、短上升時(shí)間、高重復(fù)率和低能量。成群出現(xiàn)的窄脈沖可對(duì)半導(dǎo)體器件的結(jié)電容充電，當(dāng)累積到一定程度后可能引起電路或設(shè)備出錯(cuò)。脈沖群發(fā)生器為評(píng)估電氣和電子設(shè)備的供電電源端口、信號(hào)、控制和接地端口在受到電快速瞬變脈沖群干擾時(shí)的性能確定一個(gè)共同的能再現(xiàn)的評(píng)定依據(jù)。產(chǎn)品滿(mǎn)足IEC61000-4-4、EN60100-4-4和GB/T17626.4等新標(biāo)準(zhǔn)要求。
脈沖群發(fā)生器又稱(chēng)快速瞬變脈沖群發(fā)生器等等； 電路中，諸如來(lái)自切換瞬態(tài)過(guò)程（切斷感性負(fù)載、繼電器觸點(diǎn)彈掉等），通常會(huì)對(duì)同一電路中的其他電氣和電子設(shè)備產(chǎn)生干擾。這類(lèi)干擾的特點(diǎn)是：高幅值、短上升時(shí)間、高重復(fù)率和低能量。成群出現(xiàn)的窄脈沖可對(duì)半導(dǎo)體器件的結(jié)電容充電，當(dāng)累積到一定程度后可能引起電路或設(shè)備出錯(cuò)。脈沖群發(fā)生器為評(píng)估電氣和電子設(shè)備的供電電源端口、信號(hào)、控制和接地端口在受到電快速瞬變脈沖群干擾時(shí)的性能確定一個(gè)共同的能再現(xiàn)的評(píng)定依據(jù)。產(chǎn)品滿(mǎn)足IEC61000-4-4、EN60100-4-4和GB/T17626.4等新標(biāo)準(zhǔn)要求。
靜電放電是普遍存在的自然現(xiàn)象，ESD 114E 是針對(duì)人體模型(HBM)和機(jī)械模型(MM)的靜電放電抗擾度試驗(yàn)的特點(diǎn)和要求而專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)，分HBM 靜電測(cè)試平臺(tái)和MM 靜電測(cè)試平臺(tái)。適用于如 LED、晶體管、IC 等半導(dǎo)體器件的測(cè)試。產(chǎn)品滿(mǎn)足 ANSI-STM5.1-2001、JESD22-A114D -2005、AEC-Q100-002D -2003、JEDEC JESD 22-A114E、IEC6100-4-2 等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求。
靜電槍又稱(chēng)靜電放電發(fā)生器、靜電放電測(cè)試儀、靜電放電槍、靜電放電干擾測(cè)試儀、ESD測(cè)試儀等等; 靜電放電是普遍存在的自然現(xiàn)象（當(dāng)帶電的物體靠近或接觸一個(gè)導(dǎo)體時(shí)，電荷就要發(fā)生轉(zhuǎn)移，這就是靜電放電），靜電放電對(duì)電氣和電子設(shè)備、裝置或系統(tǒng)的影響無(wú)處不在，是一種危害程度極高的電磁能量。只有提高電子產(chǎn)品抗靜電能力水平才能保證電子產(chǎn)品的安全使用。ESD測(cè)試儀用于評(píng)估電氣和電子設(shè)備、裝置或系統(tǒng)遭受靜電放電時(shí)的性能。產(chǎn)品完全滿(mǎn)足IEC61000-4-2和GB/T17626.2等新標(biāo)準(zhǔn)要求。
靜電放電是普遍存在的自然現(xiàn)象，ESD 8K 是針對(duì)人體模型(HBM)和機(jī)械模型(MM)的靜 電放電抗擾度試驗(yàn)的特點(diǎn)和要求而專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)，分HBM 靜電測(cè)試平臺(tái)和MM 靜電測(cè)試平臺(tái)。 適用于如 LED、晶體管、IC 等半導(dǎo)體器件的測(cè)試。產(chǎn)品滿(mǎn)足 ANSI-STM5.1-2001、 JESD22-A114D -2005、AEC-Q100-002D -2003 等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求。
EMC 031功能抗擾度測(cè)試儀是可進(jìn)行靜電放電抗擾度、電快速瞬變脈沖群抗擾度及浪涌（沖擊）抗擾度三項(xiàng)試驗(yàn)的多功能組合抗擾度測(cè)試設(shè)備。符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17626.2《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗(yàn)》 、IEC61000-4-2：Testing and measurement techniques-Electrostatic discharge immunity test、GB/T 17626.4《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)》 、IEC61000-4-4：Testing and measurement techniques-Electrical fast fransient/burst immunity test、GB/T 17626.5《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)》 、IEC61000-4-5：Testing and measurement techniques-Surge immunity test
電路中，諸如來(lái)自切換瞬態(tài)過(guò)程（切斷感性負(fù)載、繼電器觸點(diǎn)彈跳等），通常會(huì)對(duì)同一電路中的其他電氣和電子設(shè)備產(chǎn)生干擾。這類(lèi)干擾的特點(diǎn)是：高幅值、上升時(shí)間短、高重復(fù)率和低能量。成群出現(xiàn)的窄脈沖可對(duì)半導(dǎo)體器件的結(jié)電容充電，當(dāng)累積到一定程度后可能引起電路或設(shè)備出錯(cuò)。我司自主研發(fā)的脈沖群發(fā)生器為評(píng)估電氣和電子設(shè)備的供電電源端口、信號(hào)、控制和接地端口在受到電快速瞬變脈沖群干擾時(shí)的性能確定一個(gè)共同的能再現(xiàn)的評(píng)定依據(jù)。符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17626.4《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)》 、IEC61000-4-4：Testing and measurement techniques-Electrical fast fransient/burst immunity test
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多功能抗擾度測(cè)試儀
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沖擊電流發(fā)生器
電波暗室
EMC天線(xiàn)
