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雷擊浪涌發(fā)生器SUR 8/20V1專門針對半導體器件及手機通信產(chǎn)品而設計的低壓浪涌試驗,依據(jù)電磁兼容試驗中的雷擊浪涌抗擾度試驗特點和要求而設計的低壓雷擊浪涌發(fā)生器。符合標準:GB/T 17626.5《電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗》 、IEC61000-4-5:Testing and measurement techniques-Surge immunity test


智能型雷擊浪涌發(fā)生器SUR 0561用于評估設備在遭受來自電源線端口和其他信號線端口上高能量騷擾時的性能,自然界的雷擊(間接雷)以及供電線路中因大型開關(guān)切換所引起的電壓變化對供電線路和通信線路的影響,其能量特別大,對產(chǎn)品的影響可能是破壞性的。符合標準:GB/T 17626.5《電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗》、IEC61000-4-5:Testing and measurement techniques-Surge immunity test
